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光耦參數(shù)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：光耦參數(shù)測(cè)試儀
，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測(cè)。

產(chǎn)品型號(hào)：JFY3010A
廠商性質(zhì)：其他
更新時(shí)間：2025-09-11
訪問量：3106

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光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào)：JFY3010A

光耦參數(shù)測(cè)試儀

詳細(xì)介紹
※概述:
是一種**門用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,適用電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來料檢測(cè)。
※ 測(cè)量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測(cè)量參數(shù):

是一種**門用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,適用電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來料檢測(cè)。
※ 測(cè)量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測(cè)量參數(shù):

參數(shù)指標(biāo)表:

參數(shù)項(xiàng)	測(cè)試參數(shù)	測(cè)試條件設(shè)置

輸入正向壓降(VF)	0-2.000V	0-400MA
耐壓(BVCEO)	0-1200V	0-2.000MA
傳輸比(CTR)	0-3000	VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)	0-2.000V	IF:0-400MA IC:0-2.00A
輸出漏電流(Iceo)	0-1mA	VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)	0-1mA	VR=4V

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