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      微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀

      更新時(shí)間:2017-11-15      點(diǎn)擊次數(shù):634

      微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào): SM-Ⅲ 
      用途和目的 
      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀為塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的更新?lián)Q代產(chǎn)品,它利用光電機(jī)的一體化與計(jì)算機(jī)技術(shù),提高塞曼實(shí)驗(yàn)儀的現(xiàn)代化程度。采用的高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器,既可把塞曼效應(yīng)的干涉圖像在監(jiān)視器屏幕上顯示,又可通過圖像采集箱數(shù)字化由USB接口輸入微機(jī),在微機(jī)顯示器上顯示圖像,通過精心編制的塞曼效應(yīng)分析軟件可從屏幕上測(cè)量干涉條紋直徑,進(jìn)而求出電子荷質(zhì)比和實(shí)驗(yàn)誤差,并可將結(jié)果及圖像輸出打印。 

      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn) 
      * 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈,譜線范圍400.0nm~577.0nm; 
      * 濾色片中心波長(zhǎng):365.0nm; 
      * 實(shí)驗(yàn)誤差:≤5%; 
      * 與微機(jī)連接方式:USB2.0; 
      * 可實(shí)現(xiàn)塞曼效應(yīng)的干涉圖樣的快速采集與分析,節(jié)約實(shí)驗(yàn)時(shí)間; 
      * 直觀性好,可靠性好,圖像明亮清晰反差大,不用在暗室內(nèi)工作; 
      * 儀器調(diào)節(jié)方便、簡(jiǎn)捷、工作量小,減少了該實(shí)驗(yàn)的難度; 
      * 易于控制,便于自動(dòng)化處理; 
      * 可做縱向塞曼效應(yīng)的觀察; 
      * 磁場(chǎng)裝置為*磁鐵,磁場(chǎng)強(qiáng)度高、體積小、重量輕,便于工作攜帶。
      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀

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       型號(hào): SM-Ⅲ 
      用途和目的 
      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀為塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的更新?lián)Q代產(chǎn)品,它利用光電機(jī)的一體化與計(jì)算機(jī)技術(shù),提高塞曼實(shí)驗(yàn)儀的現(xiàn)代化程度。采用的高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器,既可把塞曼效應(yīng)的干涉圖像在監(jiān)視器屏幕上顯示,又可通過圖像采集箱數(shù)字化由USB接口輸入微機(jī),在微機(jī)顯示器上顯示圖像,通過精心編制的塞曼效應(yīng)分析軟件可從屏幕上測(cè)量干涉條紋直徑,進(jìn)而求出電子荷質(zhì)比和實(shí)驗(yàn)誤差,并可將結(jié)果及圖像輸出打印。 

      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn) 
      * 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈,譜線范圍400.0nm~577.0nm; 
      * 濾色片中心波長(zhǎng):365.0nm; 
      * 實(shí)驗(yàn)誤差:≤5%; 
      * 與微機(jī)連接方式:USB2.0; 
      * 可實(shí)現(xiàn)塞曼效應(yīng)的干涉圖樣的快速采集與分析,節(jié)約實(shí)驗(yàn)時(shí)間; 
      * 直觀性好,可靠性好,圖像明亮清晰反差大,不用在暗室內(nèi)工作; 
      * 儀器調(diào)節(jié)方便、簡(jiǎn)捷、工作量小,減少了該實(shí)驗(yàn)的難度; 
      * 易于控制,便于自動(dòng)化處理; 
      * 可做縱向塞曼效應(yīng)的觀察; 
      * 磁場(chǎng)裝置為*磁鐵,磁場(chǎng)強(qiáng)度高、體積小、重量輕,便于工作攜帶。
      SM-Ⅲ微機(jī)塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀

       

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